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MPS-X000系列全自动探针台系统

采用智能图像识别技术,实现自动扫描(对准)芯片,自动定位芯片首粒; 系统的MAP图所示芯粒同实际Wafer芯粒一一对应,精准鉴别,精准分析每个芯粒;系统提供诸多参数,对测试流程进行详细设置;对行业流行常用的测试仪表,我们均提供技术对接支持.

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100+真实客户校验,提供满足不同需求的客户需求