首   页 探针台 光伏检测 测试方案 资料下载

   手动探针台
         XH-MP150A型
         XH-MP150B型
         XH-MP150C型
         XH-PS150型
   半自动探针台
         XH-AP150型
   探针台配件
         电磁屏蔽箱
         三维探针座
         压力可调探针座
   光伏检测仪器
         硅块/硅锭探伤仪
         非接触厚度测试仪
         手持式电阻率测试仪
         硅料检测分选仪
在线咨询 在线咨询
tel
资料下载    
电导率仪表与电阻率仪表 查看
下载
少子寿命测试方法 查看
下载

多晶硅制作工艺_改良西门子法

查看
下载
半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法(非接触涡流法)
(文件较大建议鼠标右键保存到您的计算机后查看)
查看
下载
硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法(GB-T_1552-1995) 查看
下载
光伏原理基础知识 查看
下载
硅晶体中碳氧含量的检验 查看
下载
如何测量样品电阻率 查看
下载
测量电阻率时测量电流的选择和影响 查看
下载
测探针游移度和检验探针游移对测量结果的影响 查看
下载
四探针技术测量薄层电阻的原理及应用 查看
下载
数字化智能四探针测试仪的研制 查看
下载
方块电阻测量知识 查看
下载
半导体电学测量 查看
下载
影响电阻或电阻率测试的主要因素 查看
下载

信誉、品质、专业、快捷是我们的宗旨

版权所有:北京羲和阳光科技发展有限公司 网站技术支持:羲和阳光信息管理部  网站地图  联系我们  人才加盟
公司地址:北京市顺义区南法信镇府前街56号东港鑫座2-603室  电话:010-61407884  客服QQ
:1419343158    业务邮件E_MAIL:vivian.bao@xihesun.com
建议使用IE6.0以上浏览器 1024*768分辨率浏览本站 京ICP备10051297号